НИИЭТ ускорил тестирование микроэлектроники на обновленных стендах

Инженеры предприятия уже начали использовать доработанные установки в текущих программах контроля качества. В отличие от предыдущих версий, модернизированный СИТ-210 получил улучшенную камеру тепла с мощными нагревательными элементами и эффективным воздушным теплообменом. Теперь внутри устройства можно одновременно разместить до 21 платы, каждая из которых вмещает от 10 до 50 микросхем. Это решение позволяет проводить испытания на безотказность и электротермотренировку не только силовой электроники, но и широкого спектра интегральных микросхем.

Техническое оснащение стенда включает программируемые источники питания и контроллеры тестовых последовательностей, способные поддерживать температурный режим до +150 градусов. Внешне обновленное оборудование легко идентифицировать по оранжевому цвету лицевой панели. Новые возможности стенда направлены на повышение точности измерений и соблюдение жестких стандартов безопасности, которые предъявляются к современной отечественной компонентной базе.